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涂層測(cè)厚儀的測(cè)量方法
日期：2024-11-24 13:40
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摘要：
涂層測(cè)厚儀的測(cè)量方法主要有:磁性測(cè)量法.渦流測(cè)量法，X射線熒光法，β射線反向散射法，契切法，光截發(fā)，電解法，厚度差測(cè)量法.稱重法等。這些方法中前4種方法為無(wú)損測(cè)量，后5種為有損檢測(cè) 。
隨普技術(shù)的日益進(jìn)步，*是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后.采用磁性法和渦流打的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、**度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)盆的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高，它適用范圍廣，量程寬，因此無(wú)損測(cè)量測(cè)厚儀因操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉已成為工業(yè)和科研使用*廣泛的測(cè)厚儀器。